冷熱臺可用于顯微鏡、倒置顯微鏡、紅外光譜儀、拉曼儀、X射線等儀器。適用高分子/液晶、材料、光譜學(xué)、生物、醫(yī)藥、地質(zhì)、 食品、冷凍干燥、 X光衍射等領(lǐng)域應(yīng)用。
原理及應(yīng)用：冷熱臺和高溫臺，結(jié)合研究級巖相學(xué)顯微鏡使用，可以直接原位觀察在加溫或冷凍過程中樣品（如：流體包裹體、熔體包裹體）相態(tài)的變化，測定相變溫度，進而獲得相關(guān)的物理化學(xué)參數(shù)。
冷熱臺主要包括臺體、控溫系統(tǒng)和液氮冷卻系統(tǒng)；熱臺主要包括臺體、控溫系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)和循環(huán)水系統(tǒng)。本實驗室擁有的多套研究級巖相學(xué)顯微鏡，包括透射/反射兩用光學(xué)系統(tǒng)和攝像（照相）系統(tǒng)，通過將冷熱臺和熱臺配備于顯微鏡上實現(xiàn)樣品相變及相變溫度的觀測。
主要用于：
（1）脈石礦物（如：石英、螢石、方解石）和礦石礦物（如：閃鋅礦、黑鎢礦、黃鐵礦）中流體包裹體均一溫度、低溫相變溫度的jing確測定，進而利用包裹體低溫相變溫度確定包裹體成分；
（2）巖漿系統(tǒng)礦物中熔融包裹體均一化過程及均一化溫度的jing確測定。
